HOME > Presentation > Detail硬X線光電子分光によるInN バルク評価(Evaluation of InN bulk by hard X-ray photoemission spectroscopy)金子 昌充, 山口 智広, 井村 将隆, 山下 良之, 名西憓之. 2010年春季 第57回 応用物理学関係連合講演会. 2010.NIMS author(s)IMURA, MasatakaYAMASHITA, YoshiyukiFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at :2017-02-14 10:57:25 +0900 Updated at :2017-07-10 20:42:33 +0900