HOME > 口頭発表 > 書誌詳細III族窒化物半導体のTEM/STEM観察(TEM/HAADF-STEM observations of group III nitride semiconductors)奥野 華子, 竹口 雅樹, 三石 和貴, 色川 芳宏, 佐久間 芳樹, 古屋 一夫. 平成19年度NIMSナノ計測センター研究成果発表会. 2007.NIMS著者竹口 雅樹三石 和貴色川 芳宏佐久間 芳樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 03:21:20 +0900更新時刻: 2017-07-10 20:03:59 +0900