走査型フォース顕微鏡を用いた SrxBa1-xNb2O6単結晶のドメインパターニング
(Ferroelectric domain patterning in a SrxBa1-xNb2O6 single crystal using a scanning force microscope)
第1回NIMS国際コンファレンス. 2003年03月17日-2003年03月19日.
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2017-02-18 03:12:31 +0900 更新時刻: 2017-07-10 18:40:34 +0900