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走査型フォース顕微鏡を用いた SrxBa1-xNb2O6単結晶のドメインパターニング
(Ferroelectric domain patterning in a SrxBa1-xNb2O6 single crystal using a scanning force microscope)
第1回NIMS国際コンファレンス. March 17, 2003-March 19, 2003.
NIMS author(s)
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Created at: 2017-02-18 03:12:31 +0900 Updated at: 2017-07-10 18:40:34 +0900