HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Growth rate dependence and leakage mechanism for vertical-type Schottky barrier diodes fabricated on MOCVD-GaN/GaN substrates サン リウエン, 任 兵, 廖 梅勇, 角谷 正友, 小出 康夫. 第64回応用物理学会春季学術講演会. 2017年03月14日-2017年03月17日.NIMS著者廖 梅勇角谷 正友小出 康夫Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-12-16 22:06:29 +0900更新時刻: 2018-06-05 14:16:41 +0900