電子線誘起電流（EBIC）法によるSi系材料の欠陥物性評価／粒界の電気的特性を中心として
(Characterization of Si-related materials by using Electron-Beam-Induced Current (EBIC) method)
2008年春季第55回応用物理学関係連合講演会. 2008. 招待講演
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2017-01-08 04:46:39 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:41:51 +0900