HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(Characteristics of charge trap flash memory with Al2O3/(Ta/Nb)Ox/Al2O3 multi-layer)生田目 俊秀, 大井 暁彦, 伊藤和博, 高橋誠, 知京 豊裕. 225th ECS Meeting. 2014. 招待講演NIMS著者生田目 俊秀大井 暁彦知京 豊裕Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:35:50 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:44:48 +0900