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Characterization of solution-processed In-Si-O thin-film transistors

Ha Hoang, Tatsuki Hori, To-oru Yasada, 木津 たきお, 塚越 一仁, 生田目 俊秀, Bui Nguyen Quoc Trinh, A.Fujiwara.
International Conference on Solid State Devices and Materials (S. 2018年09月09日-2018年09月13日.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻: 2018-04-13 22:39:31 +0900更新時刻: 2018-06-05 14:19:45 +0900

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