HOME > 口頭発表 > 書誌詳細シリコンナノ細線中の熱酸化応力誘起とフォノン閉じ込め効果(Stress induction and phonon confinement in thermally oxidized silicon nanowires)深田 直樹, 大島崇, 岡田直也, 木塚徳志, 鶴井隆雄, 伊藤俊, 関口 隆史, 村上浩一. 結晶加工と評価技術第145委員会 第105回研究会. 2006-02-01. 招待講演NIMS著者深田 直樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:34:31 +0900 更新時刻: 2024-03-05 11:40:56 +0900