SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > Presentation > Detail

シリコンナノ細線中の熱酸化応力誘起とフォノン閉じ込め効果
(Stress induction and phonon confinement in thermally oxidized silicon nanowires)

深田 直樹, 大島崇, 岡田直也, 木塚徳志, 鶴井隆雄, 伊藤俊, 関口 隆史, 村上浩一.
結晶加工と評価技術第145委員会 第105回研究会. 2006. Invited

NIMS author(s)


Fulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)


    Created at: 2017-01-08 04:34:31 +0900Updated at: 2024-03-05 11:40:56 +0900

    ▲ Go to the top of this page