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HfO2ゲート絶縁膜中の酸素がフラットバンド電圧シフトへ及ぼす影響
(Effect of oxygen in HfO2 gate insulator film on Vfb shift )

生田目 俊秀, 原 眞一, 大井 暁彦, 知京 豊裕, 松木武雄, 由上二郎.
日本金属学会2010年度春期大会. March 28, 2010-March 30, 2010.

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    Created at: 2017-01-08 05:42:02 +0900Updated at: 2017-07-10 20:41:44 +0900

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