HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(Direct observation of electronic states in gate stack structures: XPS under device operation)山下 良之, 吉川 英樹, 知京 豊裕, 小林 啓介. 220th The Electrochemical Society meeting. 2011. 招待講演NIMS著者山下 良之吉川 英樹知京 豊裕Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:31:38 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:43:38 +0900