HOME > 口頭発表 > 書誌詳細表面・界面磁性の新しいプローブとしてのスピン偏極-イオン散乱分光法(Spin-polarized ion scattering spectroscopy as a new analytical tool of surface and interface magnetism)鈴木 拓, 山内 泰. Atomic Level Characterizations. 2007.NIMS著者鈴木 拓山内 泰Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:43:41 +0900更新時刻: 2018-05-21 20:06:30 +0900