HOME > Presentation > DetailPE-ALD法による、SiO2, Al2O3 ,そしてTiO2基板上でのRuO2膜の成長(Growth of RuO2 films on SiO2, Al2O3 and TiO2 layers by plasma-enhanced ALD)澤田 朋実, 生田目 俊秀, ダオ デュイ タン, 山本 逸平, 栗島 一徳, 大井 暁彦, 大石知司, 小椋厚志, 長尾 忠昭. ALD2015 15th International Conference on Atomic Layer Deposition. 2015.NIMS author(s)NABATAME, ToshihideOHI, AkihikoNAGAO, TadaakiFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-02-14 10:58:15 +0900Updated at: 2017-07-10 22:06:34 +0900