HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Refractory plasmonics: Evaluation of the nonlinear optical parameters of TiN thin film and TiN/PVA nanocompositeサトウ ロドリーゴ, 石井 智, 長尾 忠昭, 内藤 昌信, 武田 良彦. 第3回 TIA 光・量子計測シンポジウム. 2018-02-07.NIMS著者サトウ ロドリーゴ石井 智長尾 忠昭内藤 昌信武田 良彦Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2018-02-16 22:01:24 +0900更新時刻: 2018-06-05 14:18:17 +0900