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著者名奈良 純, 近藤 恒, 大野 隆央, 山崎隆浩.
タイトルSiに挟まれたSiO2薄膜の電子状態計算
(Electronic structure of SiO2 thin films sandwiched between Si)
会議名2007年秋季 第68回応用物理学会学術講演会
発表年2007
言語Japanese
外部での文献参照

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