Siに挟まれたSiO2薄膜の電子状態計算
(Electronic structure of SiO2 thin films sandwiched between Si)
2007年秋季 第68回応用物理学会学術講演会. 2007年09月04日-2007年09月08日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-14 11:47:25 +0900 更新時刻: 2017-07-10 19:57:41 +0900