HOME > Presentation > DetailSiに挟まれたSiO2薄膜の電子状態計算(Electronic structure of SiO2 thin films sandwiched between Si)奈良 純, 近藤 恒, 大野 隆央, 山崎隆浩. 2007年秋季 第68回応用物理学会学術講演会. 2007.NIMS author(s)NARA, JunOHNO, TakahisaFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at :2017-02-14 11:47:25 +0900 Updated at :2017-07-10 19:57:41 +0900