APT and STEM based defects analysis in Mg-implanted GaN layers with varying Mg concentrations
30th International Conference on Defects in Semiconductors. 2019年07月21日-2019年07月26日.
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作成時刻: 2019-08-03 03:00:20 +0900 更新時刻: 2019-08-03 03:00:20 +0900