バイアス電圧印加硬X線光電子分光法による界面準位の新しい測定手法の開発
(New Direct Spectroscopic Method for Determination of Energy Distribution of Interface States: Hard X-ray Photoelectron Spectroscopic Measurements under Biases)
6th NIMS&MPI-MF work shop. 2008年05月07日-2008年05月09日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-01-08 03:21:48 +0900更新時刻: 2017-07-10 20:12:26 +0900