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著者名YAMASHITA, Yoshiyuki, Kenji Ohmori, UEDA, Shigenori, YOSHIKAWA, Hideki, KOBAYASHI, Keisuke, CHIKYOW, Toyohiro.
タイトルNew Direct Spectroscopic Method for Determination of Energy Distribution of Interface States: Hard X-ray Photoelectron Spectroscopic Measurements under Biases
(バイアス電圧印加硬X線光電子分光法による界面準位の新しい測定手法の開発)
会議名6th NIMS&MPI-MF work shop
発表年2008
言語English
外部での文献参照

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