HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Study of High-k gate insulator for GaN power device by atomic layer deposition生田目 俊秀, 色川 芳宏, Koji Shiozaki, 小出 康夫. 31st International Microprocesses and Nanotechnology Conference. 2018年11月13日-2018年11月16日. 招待講演NIMS著者生田目 俊秀色川 芳宏小出 康夫Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2018-09-07 16:20:43 +0900更新時刻: 2024-03-05 12:20:46 +0900