HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Si(111)基板上AlxGa1-xN薄膜の硬X線光電子分光(Hard x-ray photoelectron spectroscopy for AlGaN film grown on Si (111) substrate by MOCVD)角谷 正友, 大橋 直樹, 加茂佑太郎, 竹口 雅樹, 吉川 英樹, 上田 茂典, 小林 啓介, 中野貴之, 福家俊郎. 2009年春季 第56回応用物理学関係連合講演会. 2009.NIMS著者角谷 正友大橋 直樹竹口 雅樹吉川 英樹上田 茂典Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2017-02-14 11:23:30 +0900 更新時刻 :2017-07-10 20:27:38 +0900