緻密質SnO2セラミックス中の添加ZnのSIMSイメージングと深さ方向測定
(SIMS imaging and depth profiling of implanted zinc in the dense SnO2 ceramics)
STAC-7. 2013.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-14 10:50:50 +0900更新時刻: 2018-06-05 13:21:54 +0900