大気圧近傍水素雰囲気-硬X線光電子分光計測による単層MoS2/サファイア界面構造変化の評価
(Study of Structural Changes at the Single-Layer MoS₂/Sapphire Interface Using Ambient Pressure Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy with Hydrogen Gas)
2026年第87回 応用物理学会 秋季学術講演会. 2026年09月08日-2026年09月11日.
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2026-10-15 04:53:58 +0900 更新時刻: 2026-10-15 04:53:58 +0900