HOME > 口頭発表 > 書誌詳細情報量規準とシフト補正付両対数プロット直線化法に基づく光電子収量分光スペクトルの高精度自動解析(High-precision automated analysis of photoelectron yield spectroscopy spectra based on information criteria and shifted log-log plot linearization)柳生 進二郎, 長田 貴弘, 安田 剛, 中島 嘉之. 2026年 第73回 応用物理学会 春季学術講演会. 2026年03月15日-2026年03月18日.NIMS著者柳生 進二郎長田 貴弘安田 剛Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2026-07-29 03:08:04 +0900 更新時刻: 2026-07-29 03:08:04 +0900