HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Characterization of epitaxial b-FeSi2 thin films on Si substrate by SEM, EBIC and EBSD imagingイプトナー カロリン, Kawakami Hideki, 陳 君, Takashi Suemasu, 関口 隆史. PVSEC-21. 2011.NIMS著者陳 君Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 10:55:10 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:15:23 +0900
