電子線タイコグラフィーを用いた微量Cu添加ゼオライト触媒における構造評価
(Material characterization of Cu doping zeolite by electron ptychography)
日本顕微鏡学会 第80回学術講演会. 2024年06月03日-2024年06月05日.
NIMS著者
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作成時刻: 2024-10-09 03:14:30 +0900 更新時刻: 2024-10-09 03:14:30 +0900