HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(Polarity determination of InN films by hard X-ray photoelectron diffraction)ヤン アンリ, 山下 良之, 小畠 雅明, 松下智裕, 吉川 英樹, Igor Pis, 山口智広, 坂田 修身, 名西 やすし, 小林 啓介. The 73rd JSAP Autumn Meeting 2012. 2012.NIMS著者山下 良之吉川 英樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 03:19:31 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:25:27 +0900