HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(Polarity determination of InN films by hard X-ray photoelectron diffraction)ヤン アンリ, 山下 良之, 小畠 雅明, 松下智裕, 吉川 英樹, Igor Pis, 山口智広, 坂田 修身, 名西 やすし, 小林 啓介. The 73rd JSAP Autumn Meeting 2012. 2012年09月11日-2012年09月14日.NIMS著者山下 良之吉川 英樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 03:19:31 +0900 更新時刻: 2017-07-10 21:25:27 +0900