HOME > 口頭発表 > 詳細非弾性X線散乱法によるScNエピタキシャル膜のフォノン分散と寿命(Inelastic x-ray scattering measurements of phonon dispersion and lifetimes in ScN epitaxial film)著者内山裕士, 大島 祐一, ビジョラ ガルシア, 島村 清史. 会議名第63回春季応用物理学会学術講演会発表年2016言語Japanese