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非弾性X線散乱法によるScNエピタキシャル膜のフォノン分散と寿命
(Inelastic x-ray scattering measurements of phonon dispersion and lifetimes in ScN epitaxial film)

著者内山裕士, 大島 祐一, ビジョラ ガルシア, 島村 清史.
会議名第63回春季応用物理学会学術講演会
発表年2016
言語Japanese

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