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著者名FUKATA, Naoki, Naoyuki Saito, SATO, Keisuke, CHEN, Jun, SEKIGUCHI, Takashi, MITOME, Masanori, BANDO, Yoshio, Kouichi Murakami.
タイトルDoping and characterization of impurity atoms in Si and Ge nanowires
(シリコンおよびゲルマニウムナノワイヤへの不純物ドーピング)
会議名The 3rd International Conference on One-dimensional Nanomaterial
発表年2009
言語English
外部での文献参照

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