HOME > 口頭発表 > 書誌詳細放射光硬X線光電子分光によるInN/GaN界面バンド構造の決定(Determination of band structures of InN/GaN interfaces by synchrotron radiation hard X-ray photoemission spectroscopy)豊島安志, 堀場弘司, 太田実雄, 藤岡洋, 尾嶋正治, 三木久幸, 上田 茂典, 山下 良之, 吉川 英樹, 小林 啓介. 第22回日本放射光学会年会放射光科学合同シンポジウム. 2009年01月09日-2009年01月15日.NIMS著者上田 茂典山下 良之吉川 英樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:09:33 +0900更新時刻: 2017-07-10 20:21:05 +0900