SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 口頭発表 > 詳細

口頭発表の表示

著者名豊島安志, 堀場弘司, 太田実雄, 藤岡洋, 尾嶋正治, 三木久幸, 上田 茂典, 山下 良之, 吉川 英樹, 小林 啓介.
タイトル放射光硬X線光電子分光によるInN/GaN界面バンド構造の決定
(Determination of band structures of InN/GaN interfaces by synchrotron radiation hard X-ray photoemission spectroscopy)
会議名第22回日本放射光学会年会放射光科学合同シンポジウム
発表年2009
言語Japanese
外部での文献参照

▲ページトップへ移動