放射光硬X線光電子分光によるInN/GaN界面バンド構造の決定
(Determination of band structures of InN/GaN interfaces by synchrotron radiation hard X-ray photoemission spectroscopy)
第22回日本放射光学会年会放射光科学合同シンポジウム. 2009.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-01-08 04:09:33 +0900更新時刻: 2017-07-10 20:21:05 +0900