(High-Pressure Raman Study of Al14N and Al15N Epitaxial Thin Films on Sapphire Substrates)
ICC3. 2010年11月14日-2010年11月18日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-01-08 03:41:38 +0900更新時刻: 2017-07-10 20:54:38 +0900