Comparison of bias-stress effects of PBTTT- and PCDTPT-OFETs with the same gate dielectric under vacuum conditions
The 11th International Conference on Molecular Electronics & Bioelectronics (M&BE11). 2024年06月19日-2024年06月21日.
NIMS著者
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作成時刻: 2024-06-27 03:13:38 +0900更新時刻: 2024-06-27 03:13:38 +0900