柱状欠陥を導入したBi,Pb2223 薄膜の臨界電流密度
(Critical current density of Bi,Pb2223 Thin Films with Columnar Defects)
2013年 第74回応用物理学会秋季学術講演会. 2013.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-14 10:57:08 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:46:11 +0900