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著者名藤吉 孝則, 末吉哲郎, 吉村 兆貢, 土屋 啓輔, 松本 明善, 北口 仁.
タイトル柱状欠陥を導入したBi,Pb2223 薄膜の臨界電流密度
(Critical current density of Bi,Pb2223 Thin Films with Columnar Defects)
会議名2013年 第74回応用物理学会秋季学術講演会
発表年2013
言語Japanese
外部での文献参照

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