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柱状欠陥を導入したBi,Pb2223 薄膜の臨界電流密度
(Critical current density of Bi,Pb2223 Thin Films with Columnar Defects)

藤吉 孝則, 末吉哲郎, 吉村 兆貢, 土屋 啓輔, 松本 明善, 北口 仁.
2013年 第74回応用物理学会秋季学術講演会. 2013.

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    Created at :2017-02-14 10:57:08 +0900 Updated at :2017-07-10 21:46:11 +0900

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