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著者名深田 直樹, 鶴井隆雄, 陳 君, 関口 隆史, 村上浩一.
タイトルレーザーアブレーション法により生成したSiナノワイヤーへの不純物ドーピングと評価
(Doping and characterization of impurity atoms in Si Nanowires Synthesized by Laser Ablation)
会議名High-Kネット研究会
発表年2007
言語Japanese
外部での文献参照

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