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NIMS一般公開2024

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Gate-modulated reflectance spectroscopy for detecting excitonic states in two-dimensional semiconductors

APS March Meeting 2024. 2024年03月03日-2024年03月08日.

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    作成時刻: 2024-03-30 03:12:19 +0900更新時刻: 2024-03-30 03:12:19 +0900

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