HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Depth sectioning by 4D-scanning confocal electron microscopy technique竹口 雅樹, 濱岡 巧, 橋本 綾子, 三石 和貴. 19th International Microscopy Congress. 2018.NIMS著者竹口 雅樹橋本 綾子三石 和貴Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2018-09-13 16:35:05 +0900更新時刻: 2018-09-13 16:35:05 +0900