Focused Ion Beam Imaging of Defects in Si Materials for Photovoltaic and Semiconductor Use
(集束イオンビーム法による太陽電池用シリコンの欠陥の可視化)
Defects Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors. 2013年09月15日-2013年09月19日.
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2017-01-08 04:17:25 +0900 更新時刻: 2017-07-10 21:41:29 +0900