HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Observation of Redox Behavior in nanoionics Devices Uing X-ray Photoemission Spectroscopy土屋敬志, 三好正悟, 山下 良之, 上田 茂典, 吉川 英樹, 寺部 一弥, 小林 啓介, 青野 正和, 山口周. 第25回日本MRS年次大会. 2015年12月08日-2015年12月10日.NIMS著者山下 良之上田 茂典吉川 英樹寺部 一弥青野 正和Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:47:33 +0900更新時刻: 2017-07-10 22:20:14 +0900
