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著者名肥田聡太, 森山拓洋, 山崎 隆浩, 大野 隆央, 吉武 道子, 岸田悟, 木下健太郎.
タイトル抵抗変化メモリの導電性パス生成機構 ~Grain surface tiling modelの検証~
(Formation Mechanism of Conducting Path in Resistive Random Access Memory ~ Verification of a grain surface tiling model ~)
会議名第64回応用物理学会春季学術講演会
発表年2017
言語Japanese
外部での文献参照

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