HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Growth feature characterization of laser annealed GeSn films on insulators by EBSD methodMATSUMURA, Ryo, JEVASUWAN, Wipakorn, FUKATA, Naoki. Microscopy Conference 2019. 2019.NIMS著者松村 亮ジェバスワン ウイパコーン深田 直樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2019-09-18 03:00:17 +0900 更新時刻 :2019-09-18 03:00:17 +0900