SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 口頭発表 > 詳細

口頭発表の表示

著者名MATSUMURA, Ryo, JEVASUWAN, Wipakorn, FUKATA, Naoki.
タイトルGrowth feature characterization of laser annealed GeSn films on insulators by EBSD method
会議名Microscopy Conference 2019
発表年2019
言語English
外部での文献参照

▲ページトップへ移動