Growth feature characterization of laser annealed GeSn films on insulators by EBSD method
Microscopy Conference 2019. 2019年09月01日-2019年09月05日.
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2019-09-18 03:00:17 +0900 更新時刻: 2019-09-18 03:00:17 +0900