HOME > Presentation > Detail試料電流法を用いた偏極He*ビームによる最表面磁気ヒステリシス測定倉橋 光紀, 鈴木 拓, 山内 泰. 2004 日本物理学会秋期大会. 2004.NIMS author(s)KURAHASHI, MitsunoriSUZUKI, TakuYAMAUCHI, YasushiFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-02-14 11:03:30 +0900Updated at: 2017-07-10 19:05:21 +0900