HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Dislocation generation and propagation across the grain boundaries and seed interfaces in cast Si宮村 佳児, 陳 君, プラカッシュ ロニト ロニル, イプトナー カロリン, 原田 博文, 関口 隆史. Defects Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors. 2013年09月15日-2013年09月19日.NIMS著者陳 君Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 03:16:33 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:41:30 +0900