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著者名MIYAMURA, Yoshiji, CHEN, Jun, PRAKASH, Ronit Roneel, JIPTNER, Karolin, HARADA, Hirofumi, SEKIGUCHI, Takashi.
タイトルDislocation generation and propagation across the grain boundaries and seed interfaces in cast Si
会議名Defects Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors
発表年2013
言語English
外部での文献参照

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