Dislocation generation and propagation across the grain boundaries and seed interfaces in cast Si
Defects Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors. 2013年09月15日-2013年09月19日.
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作成時刻: 2017-01-08 03:16:33 +0900 更新時刻: 2017-07-10 21:41:30 +0900