SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 口頭発表 > 書誌詳細

参照スペクトルを用いた動的Shirley法によるX線光電子分光スペクトルの解析 〜産業分野を活性化する自動解析ソフトウェアの実現を目指して〜
(XPS spectrum analysis using Active Shirley method with a multi-pack function of reference spectrum 〜Software development for automatic XPS analysis which can reinvigorate an industrial field〜)

仲村 和貴, 村上 諒, 陰山 弘典, 片岡 範行, 田中 博美, 松本 凌, 篠塚 寛志, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 吉原 一紘.
第23回高専シンポジウム. 2018.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻: 2018-02-08 22:22:02 +0900更新時刻: 2018-06-05 14:18:09 +0900

    ▲ページトップへ移動