HOME > 口頭発表 > 書誌詳細磁気光学イメージングを用いた超電導薄膜面内の臨界電流密度評価(Critical current density distribution measurement in REBa2Cu3Oy superconducting thin films using magneto-optical imaging)宇都宮 銀汰, 井上 昌睦, 大井 修一, 立木 実, 松本 明善. 第107回 低温工学・超電導学会研究発表会. 2024年05月23日-2024年05月25日.NIMS著者大井 修一立木 実松本 明善Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2024-05-30 03:41:09 +0900更新時刻: 2024-05-30 03:41:09 +0900