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著者名FUKATA, Naoki, SEKIGUCHI, Takashi, BANDO, Yoshio, YU, Mingke, JEVASUWAN, Wipakorn, Kouichi Murakami, Zhong Lin Wang.
タイトルDoping and characterization of impurity atoms in Si and Ge nanowires
(SiおよびGeナノワイヤ中への不純物ドーピングと評価)
会議名BIAMS 12
発表年2014
言語English
外部での文献参照

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