HOME > 口頭発表 > 書誌詳細SiおよびGeナノワイヤ中への不純物ドーピングと評価(Doping and characterization of impurity atoms in Si and Ge nanowires)深田 直樹, 関口 隆史, 板東 義雄, ヨ メイカ, ジェバスワン ウイパコーン, 村上浩一, Zhong Lin Wang. BIAMS 12. 2014. 招待講演NIMS著者深田 直樹板東 義雄ジェバスワン ウイパコーンMaterials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2017-02-14 11:30:02 +0900 更新時刻 :2024-03-05 11:45:11 +0900