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SiおよびGeナノワイヤ中への不純物ドーピングと評価
(Doping and characterization of impurity atoms in Si and Ge nanowires)

深田 直樹, 関口 隆史, 板東 義雄, ヨ メイカ, ジェバスワン ウイパコーン, 村上浩一, Zhong Lin Wang.
BIAMS 12. 2014. Invited

NIMS author(s)


Fulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)


    Created at :2017-02-14 11:30:02 +0900 Updated at :2024-03-05 11:45:11 +0900

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