HOME > Presentation > DetailSiおよびGeナノワイヤ中への不純物ドーピングと評価(Doping and characterization of impurity atoms in Si and Ge nanowires)深田 直樹, 関口 隆史, 板東 義雄, ヨ メイカ, ジェバスワン ウイパコーン, 村上浩一, Zhong Lin Wang. BIAMS 12. 2014. InvitedNIMS author(s)FUKATA, NaokiBANDO, YoshioJEVASUWAN, WipakornFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at :2017-02-14 11:30:02 +0900 Updated at :2024-03-05 11:45:11 +0900