硬X線光電子分光法を用いたInGaN系窒化物半導体の表面―バルク電子状態評価
(Surface and bulk electronic structures of InGaN by HX-PES)
第10回 ナノ構造・エピタキシャル成長講演会. 2018. 招待講演
NIMS著者
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作成時刻: 2018-07-15 16:49:16 +0900更新時刻: 2024-03-05 12:20:42 +0900