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(Atomistic Behavior of Nitrogen Atoms in Hf-based High-k Gate Dielectrics: First-principles Study)

梅澤 直人, 白石 賢二, 鳥居和功, Mauro Boero, 知京 豊裕, 渡部 平司, 大野 隆央, 山部 紀久夫, 山田 啓作, 奈良安雄.
Seminar. 2005.

NIMS著者


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    作成時刻 :2017-02-25 01:00:54 +0900 更新時刻 :2017-07-10 19:24:52 +0900

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